とうかがたでんしけんびきょう【透過型電子顕微鏡】とは｜一般用語
〔transmission electron microscope〕初期に開発された電子顕微鏡。電子ビームを絞り込んで加速させ，試料に照射し，透過した電子ビームを拡大して観察する。0.1nm の分解能が得られるが，透過能力は弱いので，試料を非常に薄くする必要がある。テム（TEM）。→走査型電子顕微鏡
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